奈米中心公告

標題:

 

更動高解析度場發射掃描電子顯微鏡(SEM)及聚焦離子顯微系統(FIB)20098月份使用時段預約日期

 

內容:

 

配合貴儀新舊系統轉換,更動高解析度場發射掃描電子顯微鏡(SEM)及聚焦離子顯微系統(FIB)20098月份使用時段預約日期為2009/7/22 ()